Luc Dessart; D. John Hillier; Roni Waldman; Eli Livne; Stéphane Blondin
Luc Dessart; D. John Hillier; Roni Waldman; Eli Livne; Stéphane Blondin
Xianfei Zhang; C. Simon Jeffery
Xianfei Zhang; C. Simon Jeffery
A correlation between the intrinsic brightness and average decay rate of Swift/UVOT gamma-ray burst optical/ultraviolet light curves [0.03%]
S. R. Oates; M. J. Page; M. De Pasquale; P. Schady; A. A. Breeveld; S. T. Holland; N. P. M. Kuin; F. E. Marshall
S. R. Oates; M. J. Page; M. De Pasquale; P. Schady; A. A. Breeveld; S. T. Holland; N. P. M. Kuin; F. E. Marshall
T. Sbarrato; G. Ghisellini; M. Nardini; G. Tagliaferri; L. Foschini; G. Ghirlanda; F. Tavecchio; J. Greiner; A. Rau; N. Gehrels
T. Sbarrato; G. Ghisellini; M. Nardini; G. Tagliaferri; L. Foschini; G. Ghirlanda; F. Tavecchio; J. Greiner; A. Rau; N. Gehrels
James E. Owen; Cathie J. Clarke
James E. Owen; Cathie J. Clarke
X-ray polarimetry as a new tool to discriminate reflection from absorption scenarios – predictions for MCG-6-30-15 [0.03%]
F. Marin; R. W. Goosmann; M. Dovčiak; F. Muleri; D. Porquet; N. Grosso; V. Karas; G. Matt
F. Marin; R. W. Goosmann; M. Dovčiak; F. Muleri; D. Porquet; N. Grosso; V. Karas; G. Matt
M. S. Fujii; J. Baba
M. S. Fujii; J. Baba
S. V. Pilipenko; A. G. Doroshkevich; V. N. Lukash; E. V. Mikheeva
S. V. Pilipenko; A. G. Doroshkevich; V. N. Lukash; E. V. Mikheeva