Editorial [0.03%]
K. D. Gupta
K. D. Gupta
C. K. Queck; L. E. Davis; K. Xie; K. Newsome; B. Climer; N. E. Priestley
C. K. Queck; L. E. Davis; K. Xie; K. Newsome; B. Climer; N. E. Priestley
Yaojiang Zhang; Erping Li; Haibo Long; Zhenghe Feng
Yaojiang Zhang; Erping Li; Haibo Long; Zhenghe Feng
N. C. Karmakar; S. K. Padhi
N. C. Karmakar; S. K. Padhi
Quasi-static analysis of microstrip lines with variation of substrate thickness in transverse direction [0.03%]
S. Khoulji; M. Essaaidi
S. Khoulji; M. Essaaidi
Cham Kiong Queck; Lionel E. Davis
Cham Kiong Queck; Lionel E. Davis
Kerim Guney; Habib Hancer
Kerim Guney; Habib Hancer
A. Mami; R. Bedira; A. Gharsallah; A. Gharbi; H. Baudrand
A. Mami; R. Bedira; A. Gharsallah; A. Gharbi; H. Baudrand