The Leading Edge. 2004;23(5):438-442. doi: 10.1190/1.1729225 0.02025

Electrical resistance tomography

Daily, William; Ramirez, Abelardo; Binley, Andrew; LeBrecque, Douglas

DOI: 10.1190/1.1729225

摘要

Copyright © The Leading Edge. 中文内容为AI机器翻译，仅供参考！

期刊名：Leading edge

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ISSN：1070-485X

e-ISSN：1938-3789

IF/分区：0.0/

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