IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 2015;23(3):466-479. doi: 10.1109/TVLSI.2014.2313563 Q23.22025

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诊断和布局感知（DLA）扫描链拼接

Ye, Jing; Huang, Yu; Hu, Yu; Cheng, Wu-Tung; Guo, Ruifeng; Lai, Liyang; Tai, Ting-Pu; Li, Xiaowei; Changchien, Weipin; Lee, Daw-Ming; Chen, Ji-Jan; Eruvathi, Sandeep C.; Kumara, Kartik K.; Liu, Charles; Pan, Sam

DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2313563

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期刊名：Ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems

缩写：IEEE T VLSI SYST

ISSN：1063-8210

e-ISSN：1557-9999

IF/分区：3.2/Q2

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