IET Microwaves, Antennas & Propagation. 2014;8(5):323-327. doi: 10.1049/iet-map.2013.0313 Q41.32025

Characterising thermal resistances and capacitances of GaN high-electron-mobility transistors through dynamic electrothermal measurements

通过动态电热测量表征GaN高电子迁移率晶体管的热阻和电容

Wei, Wei; Jensen, Ole Kiel; Mikkelsen, Jan Hvolgaard

DOI: 10.1049/iet-map.2013.0313

期刊名：Iet microwaves antennas & propagation

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ISSN：1751-8725

e-ISSN：1751-8733

IF/分区：1.3/Q4

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