Chinese Physics Letters. 2014;31(2):027702-. doi: 10.1088/0256-307X/31/2/027702 Q14.22025

Band Alignment and Band Gap Characterization of La ₂ O ₃ Films on Si Substrates Grown by Radio Frequency Magnetron Sputtering

采用射频磁控溅射法在硅衬底上生长的La₂O₃薄膜的能带对齐与禁带特性表征

Liu, Qi-Ya; Fang, Ze-Bo; Ji, Ting; Liu, Shi-Yan; Tan, Yong-Sheng; Chen, Jia-Jun; Zhu, Yan-Yan

DOI: 10.1088/0256-307X/31/2/027702

期刊名：Chinese physics letters

缩写：CHINESE PHYS LETT

ISSN：0256-307X

e-ISSN：1741-3540

IF/分区：4.2/Q1

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