Chinese Physics Letters. 2008;25(4):1380-1383. doi: 10.1088/0256-307X/25/4/059 Q14.22025

Thickness Dependence of Resistivity and Optical Reflectance of ITO Films

Mei-Zhen, Gao; R, Job; De-Sheng, Xue; R, Fahrner W

DOI: 10.1088/0256-307X/25/4/059

期刊名：Chinese physics letters

缩写：CHINESE PHYS LETT

ISSN：0256-307X

e-ISSN：1741-3540

IF/分区：4.2/Q1

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