Chinese Physics Letters. 2013;30(4):047702-. doi: 10.1088/0256-307X/30/4/047702 Q14.22025

Direct Piezoelectric Potential Measurement of ZnO Nanowires Using a Kelvin Probe Force Microscope

利用开尔文探针力显微镜直接测量ZnO纳米线的压电势

Wang, Xian-Ying; Xie, Shu-Fan; Chen, Xiao-Dong; Liu, Yang-Yang

DOI: 10.1088/0256-307X/30/4/047702

期刊名：Chinese physics letters

缩写：CHINESE PHYS LETT

ISSN：0256-307X

e-ISSN：1741-3540

IF/分区：4.2/Q1

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