Ieee transactions on reliability. 1977;R-26(3):0-219. doi: 10.1109/tr.1977.5220119 Q15.72025

Automatic Electronic Component Failure-Rate Prediction with MIL-HDBK-217B

基于MIL-HDBK-217B的电子元件故障率自动预测

Gaertner, W.W.; Elders, D.S.; Ellingham, D.B.; Kastning, J.A.; Schreyer, W.M.

DOI: 10.1109/tr.1977.5220119

期刊名：Ieee transactions on reliability

缩写：IEEE T RELIAB

ISSN：0018-9529

e-ISSN：1558-1721

IF/分区：5.7/Q1

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