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Ieee transactions on education. 1964;7(2):96-107. doi: 10.1109/te.1964.4321859 Q22.52025

A Short-Circuit Testing Laboratory in an Educational Institution

某教育机构的短路测试实验室

Langguth, P. O.; Pandit, M. A.

DOI: 10.1109/te.1964.4321859

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期刊名:Ieee transactions on education

缩写:IEEE T EDUC

ISSN:0018-9359

e-ISSN:1557-9638

IF/分区:2.5/Q2

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