Quality and reliability engineering international. 1994;10(4):351-353. doi: 10.1002/qre.4680100416 Q22.82025

Correlation between 1/f noise and semiconductor laser degradation

Mitsuo Fukuda; Takuo Hirono; Takeshi Kurosaki; Fumiyoshi Kano

DOI: 10.1002/qre.4680100416

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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