Quality and reliability engineering international. 1993;9(4):371-376. doi: 10.1002/qre.4680090424 Q22.82025

Failures of ALGaAs/GaAs HEMTs induced by hot electrons

C. Tedesco; C. Canali; F. Magistrali; A. Paccagnella; E. Zanoni

DOI: 10.1002/qre.4680090424

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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