Quality and reliability engineering international. 1993;9(4):299-302. doi: 10.1002/qre.4680090410 Q22.82025

Electromigration in ALCu interconnections with W-plug contacts

L. Ferlazzo; G. Reimbold; J. P. Gonchond; M. Heitzmann; O. Demolliens; G. Lormand

DOI: 10.1002/qre.4680090410

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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