Quality and reliability engineering international. 1988;4(4):317-329. doi: 10.1002/qre.4680040406 Q22.82025

A two-step methodology for CMOS VLSI reliability improvement: Step one

M. S. Davies; R. E. Miles; V. Postoyalko

DOI: 10.1002/qre.4680040406

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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