Quality and reliability engineering international. 1988;4(3):297-297. doi: 10.1002/qre.4680040323 Q22.82025

Strategies for electronics test. Craig Pynn, McGraw-Hill, 1986. Number of pages: 174. Price: DM 49.90

Finn Jensen

DOI: 10.1002/qre.4680040323

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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