Quality and reliability engineering international. 1986;2(4):275-275. doi: 10.1002/qre.4680020423 Q22.82025

Backdrive of Fast ICs, Elektronik Centralen, Venlighedsvej 4, DK-2970. Hørsholm, Denmark, April 1986

F. Jensen

DOI: 10.1002/qre.4680020423

摘要

期刊名：Quality and reliability engineering international

缩写：QUAL RELIAB ENG INT

ISSN：0748-8017

e-ISSN：1099-1638

IF/分区：2.8/Q2

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