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Applied intelligence. 1999;10(1):37-52. doi: 10.1023/a:1008333430997 Q23.52025

A Model-Based Diagnosis System for Identifying Faulty Components in Digital Circuits

Benjamin Han; Shie-Jue Lee; Hsin-Tai Yang

DOI: 10.1023/a:1008333430997

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期刊名:Applied intelligence

缩写:APPL INTELL

ISSN:0924-669X

e-ISSN:1573-7497

IF/分区:3.5/Q2

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