Journal of materials science-materials in electronics. 2008;19(1 Supplement):73-78. doi: 10.1007/s10854-007-9558-0 Q23.22025

Band offset diagnostics of advanced dielectrics

先进介电材料的能带偏移诊断

Piotr Edelman; Marshall Wilson; John D’Amico; Alexandre Savtchouk; Jacek Lagowski

DOI: 10.1007/s10854-007-9558-0

期刊名：Journal of materials science-materials in electronics

缩写：J MATER SCI-MATER EL

ISSN：0957-4522

e-ISSN：1573-482X

IF/分区：3.2/Q2

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