Application of fault modeling to continuous built-in test (c-BIT) for microwave and MMIC circuits

David L. Rhodes; Michael T. Cummings; George F. Tempel

DOI: 10.1002/mmce.4570040306

摘要

期刊名：International journal of rf and microwave computer-aided engineering

缩写：INT J RF MICROW C E

ISSN：1096-4290

e-ISSN：1099-047X

IF/分区：1.0/Q4

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