Accurate modeling of electron device I/V characteristics through a simplified large-signal measurement setup

A. Raffo; A. Santarelli; P. A. Traverso; M. Pagani; G. Vannini; F. Filicori

DOI: 10.1002/mmce.20109

摘要

期刊名：International journal of rf and microwave computer-aided engineering

缩写：INT J RF MICROW C E

ISSN：1096-4290

e-ISSN：1099-047X

IF/分区：1.0/Q4

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