Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

H. Taher; D. Schreurs; R. Gillon; E. Vestiel; C. van Niekerk; A. Alabadelah; B. Nauwelaers

DOI: 10.1002/mmce.20056

摘要

期刊名：International journal of rf and microwave computer-aided engineering

缩写：INT J RF MICROW C E

ISSN：1096-4290

e-ISSN：1099-047X

IF/分区：1.0/Q4

全文链接

官方链接

PMC全文

引文链接

复制

已复制！

格式：