Sensing margin trend with technology scaling in MRAM

Jee-Hwan Song; Jisu Kim; Seung H. Kang; Sei-Seung Yoon; Seong-Ook Jung

DOI: 10.1002/cta.635

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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