Piecewise linear second moment statistical simulation of ICs affected by non-linear statistical effects

Giorgio Biagetti; Paolo Crippa; Alessandro Curzi; Simone Orcioni; Claudio Turchetti

DOI: 10.1002/cta.606

摘要

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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