International journal of circuit theory and applications. 1989;17(2):141-149. doi: 10.1002/cta.4490170203 Q31.62025

Fault prediction process for large analogue circuit networks

Ben-Lu Jiang; Chin-Long Wey

DOI: 10.1002/cta.4490170203

摘要

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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