International Journal of Circuit Theory and Applications. 2000;28(3):281-303. doi: 10.1002/(sici)1097-007x(200005/06)28:3<281::aid-cta109>3.0.co;2-n Q31.62025

Non-linear analog circuit fault diagnosis with large change sensitivity

Worsman, Matthew; Wong, Mike W. T.

DOI: 10.1002/(sici)1097-007x(200005/06)28:3<281::aid-cta109>3.0.co;2-n

摘要

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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