International Journal of Circuit Theory and Applications. 2000;28(3):245-262. doi: 10.1002/(sici)1097-007x(200005/06)28:3<245::aid-cta103>3.0.co;2-x Q31.62025

A method for fault diagnosis in linear electronic circuits

Tadeusiewicz, M.; Korzybski, M.

DOI: 10.1002/(sici)1097-007x(200005/06)28:3<245::aid-cta103>3.0.co;2-x

摘要

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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