International Journal of Circuit Theory and Applications. 1996;24(2):201-221. doi: 10.1002/(sici)1097-007x(199603/04)24:2<201::aid-cta895>3.0.co;2-k Q31.62025

The relaxation pseudocircuit method for analogue fault diagnosis

Sheu, Hsin-Teng; Chang, Yuen-Haw

DOI: 10.1002/(sici)1097-007x(199603/04)24:2<201::aid-cta895>3.0.co;2-k

摘要

期刊名：International journal of circuit theory and applications

缩写：INT J CIRC THEOR APP

ISSN：0098-9886

e-ISSN：1097-007X

IF/分区：1.6/Q3

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